специальное устройство к поляризационному
Микроскопу
, позволяющее придавать кристаллу (в виде тонкого шлифа) различные положения в пространстве, поворачивая и наклоняя его. В основу первоначальной модели, предложенной Е. С. Федоровым (См.
Фёдоров) в 1891, положен принцип
Теодолита (вращение вокруг двух взаимно перпендикулярных осей). В 1896
Федоров описал модель с 4 осями; 5-я ось была добавлена американским учёным Эммонсом в 1929 (3 сопряжённые теодолитные системы и ось вращения столика микроскопа). С помощью Ф. с. определяются изотропность, одноосность или двуосность, оптический знак, направление оптических осей, величина двойного лучепреломления (См.
Двойное лучепреломление) и др. оптические характеристики кристалла (см.
Кристаллооптика).